紫外輻照計 MKY-UV-340

該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

u     主要性能指標(biāo)

  ※    波長范圍及峰值波長：UV－340探頭：λ：(315～370)nm；λ_P＝340nm

  ※    輻照度測量范圍：(0.1～199.9×10³)μW/cm²

  ※    紫外帶外區(qū)雜光：UV340：小于0.05％

  ※    余弦特性：符合國家二級光照度標(biāo)準(zhǔn)

  ※    示值相對誤差：±10％

  ※    響應(yīng)時間：1秒

  ※    使用環(huán)境：溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH

  ※    尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg

  ※    電源：9V積層電池（6F22型）一只

紫外輻照計 MKY-UV-340

該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

u     主要性能指標(biāo)

  ※    波長范圍及峰值波長：UV－340探頭：λ：(315～370)nm；λ_P＝340nm

  ※    輻照度測量范圍：(0.1～199.9×10³)μW/cm²

  ※    紫外帶外區(qū)雜光：UV340：小于0.05％

  ※    余弦特性：符合國家二級光照度標(biāo)準(zhǔn)

  ※    示值相對誤差：±10％

  ※    響應(yīng)時間：1秒

  ※    使用環(huán)境：溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH

  ※    尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg

  ※    電源：9V積層電池（6F22型）一只